收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 17444-2013 红外焦平面阵列参数测试方法
Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
光电子学、激光设备（31.260）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
光电子器件（L50/54）
红外器件（L52）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
-
前言：
本标准按照GB1.1—2009给出的规则起草。
本标准代替GB/T17444—1998《红外焦平面阵列特性参数测试技术规范》,与GB/T17444—1998相比主要变化如下:
———标准名称修改为《红外焦平面阵列参数测试方法》。
———增加了一些参数定义,如:红外焦平面阵列、像元、帧频、行频、固定图形噪声、平均峰值探测率、饱和信号电压、像元噪声等效温差。
———增加一些参数测试方法,如:固定图形噪声、读出速率、帧频。
———增加了附录D《调制传递函数测试方法》、附录E《非线性度测试方法》。
———修改了部分参数的名称和定义,如:积分时间、读出速率、辐照功率、辐照能量、饱和辐照功率、死像元、过热像元、噪声等效功率。
———修改了部分参数的测试方法,如:响应率、噪声电压、噪声等效温差、探测率、动态范围、相对光谱响应、串音。
本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本标准由工业和信息化部电子工业标准化研究所归口。
本标准起草单位:中国科学院上海技术物理研究所。
本标准主要起草人:丁瑞军、梁平治、唐红兰、陈洪雷、曹妩媚、殷建军、陈世军。
本部所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T17444—1998。
-
适用范围：
本标准对红外焦平面阵列特性参数及相关量进行了定义。
本标准给出了红外焦平面阵列特性参数的测试方法及测试条件。
本标准适用于线列和面阵红外焦平面阵列。
-
引用标准：
暂无
相关标准
相关部门
-
起草单位：
中国科学院上海技术物理研究所
-
归口单位：
工业和信息化部电子工业标准化研究所
-
主管部门：
工业和信息化部电子工业标准化研究所
相关人员
关联标准
-
GB 5296.3-1995
消费品使用说明 化妆品通用标签
-
GB/T 13583-1992
红外探测器外形尺寸系列
-
GB/T 41572-2022
脉冲激光时域主要参数测量方法
-
GB/T 11295-1989
激光晶体棒型号命名方法
-
GB/T 36362-2018
LED应用产品可靠性试验的点估计和区间估计（指数分布）
-
GB/T 13706-1992
光电管总规范 (可供认证用)
-
JB/T 9489-1999
氩离子激光器 主要参数 测试方法
-
DB35/T 1370-2013
福建省发光二极管芯片点测方法
-
GB/T 11297.3-2002
掺钕钇铝石榴石激光棒消光比的测量方法
-
GB/T 18490.2-2017
机械安全 激光加工机 第2部分：手持式激光加工机安全要求
-
DB35/T 1119-2011
福建省中小功率绿色和蓝色固体激光器晶体组件
-
GB/T 27662-2011
激光光束指向和位置稳定性测试方法
-
GB/T 38246-2019
家用激光显示系统光辐射安全特性评价要求
-
GB/T 7247.13-2018
激光产品的安全 第13部分：激光产品的分类测量
-
GB/T 24664-2009
工业用大功率激光器光束质量测试评定方法
-
DB42/T 1346-2018
湖北省全波形三维激光扫描仪技术条件
-
SB/T 10570-2010
片猪肉激光灼刻标识码、印应用规范
-
GB/T 18904.4-2002
半导体器件 第12-4部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的Pin-FET模块空白详细规范
-
GB/T 18904.3-2002
半导体器件 第12-3部分:光电子器件 显示用发光二极管空白详细规范
-
GB 11293-1989
固体激光材料名词术语
打开设置，点击
执行注册
