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  • 标准号
  • 名称
  • 状态
  • 类型
  • 性质
  • 实施日期
  • SJ/T 11057-1996
    电子器件详细规范 ４ＣＳ１４２型硅高频双绝缘栅场效应晶体管（可供认证用）
    废止
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 11056-1996
    电子器件详细规范 ４ＣＳ１１９１型硅高频双绝缘栅场效应晶体管（可供认证用）
    废止
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 11055-1996
    电子器件详细规范 ４ＣＳ１１９型硅高频双绝缘栅场效应晶体管（可供认证用）
    废止
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 11054-1996
    电子器件详细规范 ３ＤＧ１４０型高频放大环境额定双极型晶体管（可供认证用）
    废止
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 11053-1996
    电子器件详细规范 ３ＤＧ１８２型高频放大环境额定双极型晶体管（可供认证用）
    废止
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 11052-1996
    电子器件详细规范 ３ＤＧ１６２型高频放大环境额定双极型晶体管（可供认证用）
    废止
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 11041-1996
    电子玻璃抗冲击强度测试方法
    现行
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 11040-1996
    电子玻璃高温粘度测试方法
    现行
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 11039-1996
    电子玻璃退火点和应变点的测试方法
    现行
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 11038-1996
    电子玻璃软化点的测试方法
    现行
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 11037-1996
    电子玻璃热稳定性测试方法
    现行
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 11036-1996
    电子玻璃平均线热膨胀系数的测试方法
    现行
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 11035-1996
    电子玻璃抗水化学稳定性测试方法
    现行
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 11034-1996
    电子玻璃直流击穿强度测试方法
    现行
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 11033-1996
    电子玻璃密度的测试方法 浮沉法
    现行
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 11032-1996
    电子器件用金铜及金镍钎焊料的分析方法 原子吸收分光光度法测定锌
    被代替
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 11029-1996
    电子器件用金镍钎焊料的分析方法 ＥＤＴＡ容量法测定镍
    被代替
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 11026-1996
    电子器件用银铜钎焊料的分析方法 原子吸收分光光度法测定铁、镉、锌
    现行
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 11028-1996
    电子器件用金铜钎焊料的分析方法 ＥＤＴＡ容量法测定铜
    被代替
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
  • SJ/T 11030-1996
    电子器件用金铜及金镍钎焊料的分析方法 双硫腙分光光度法测定铅
    被代替
    暂无
    推荐性
    1997-01-01
共 315208 条