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  • 标准号
  • 名称
  • 状态
  • 类型
  • 性质
  • 实施日期
  • SJ 2658.3-1986
    半导体红外发光二极管测试方法.反向电压测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2658.5-1986
    半导体红外发光二极管测试方法.正向串联电阻的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2658.4-1986
    半导体红外发光二极管测试方法.电容的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2658.10-1986
    半导体红外发光二极管测试方法.调制宽带的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2658.11-1986
    半导体红外发光二极管测试方法.脉冲响应特性的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2658.2-1986
    半导体红外发光二极管测试方法.正向压降测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2658.1-1986
    半导体红外发光二极管测试方法.总则
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2214.10-1982
    半导体光敏二、三极管光电流的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2214.9-1982
    半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2214.8-1982
    半导体光敏三极管暗电流的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2214.7-1982
    半导体光敏三极管饱和压降的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2214.6-1982
    半导体光敏三极管集电极.发射极反向击穿电压的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2214.5-1982
    半导体光敏二极管结电容的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2214.4-1982
    半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2214.3-1982
    半导体光敏二极管暗电流的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2214.2-1982
    半导体光敏二极管正向压降的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2214.1-1982
    半导体光敏管测试方法总则
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2354.14-1983
    PIN、雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2354.13-1983
    PIN、雪崩光电二极管倍增因子的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
  • SJ 2354.12-1983
    PIN、雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试方法
    暂无
    暂无
    暂无
共 315194 条